晶振可靠性测试:温度循环试验

2023-09-08 10:24:02    来源 : 面包芯语


(资料图片仅供参考)

低温:-40±5°C

高温:125±5°C‍

循环:1000 cycles

高低温度保持时间最大时间30mins‍

高低温切换时间最大1min‍

实验结束后24±2Hrs进行电性能测试‍

晶体谐振器频率降低2.5ppm左右(5max),谐振阻抗增大3Ω左右(5max)/±10%;晶体振荡器频率降低3ppm左右(5max)。

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